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[新闻中心]sop8/ots8（16）pin-1.27mm芯片下压弹片老化测试座不良案例分析2023年12月06日 11:25: sop8/ots8（16）pin-1.27mm芯片下压弹片老化测试座不良案例分析 1、芯片测试座参数： sop8/ots8（16）pin-1.27mm芯片下压弹片老化测试座 2、芯片测试环境：烧录 3、客户烧录连接方式：焊接 4、客诉描述问题：老化测试座焊接后，下压后弹片针不回弹，无法正常动作（卡死） 5、实物图：不良状态：正常状态：问题案例分析： 1、不良原因：因主体弹片槽内被附满固体异物，同时针头也被异物黏住，导致无法下压运动 2、固定异物从外观和实际验证判定，; 阅读（14）标签：产品|新闻|sop测试座|sop老化座|sop烧录座

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