5032-九游会平台
您好,欢迎来到深圳市鸿怡电子有限公司j9九游会登陆入口官网
鸿怡测试座,终身j9九游会登陆入口的技术支持保修
当前位置:九游会平台-j9九游会登陆入口 » 鸿怡电子九游会平台的产品中心 » 晶振测试座 » 5032-4pin单面弹晶振测试座

5032-4pin单面弹晶振测试座详细信息/detailed information

prevnext

5032-4pin单面弹晶振测试座

产品数据:
1、材料:pei
2、适用ic尺寸:1.5x1.5~12x12mm
3、最高频率:>9.3ghz
4、结构:open-top/翻盖
5、接触方式:探针
6、工作温度:-55°c~175°c
探针接触细节
产品特点:
1、采用开模socket 探针的结构,大大降低设计、加工
成本,降低了使用费用
2、根据实际测试情况,选用不同探针,可以对
ic进行有锡球、无锡球不同测试
3、交期快,最快1天交货,提高使用效率
4、进口探针配合高精度模具,socket测试更稳定,使用寿命更长
订购热线:13631538587

产品数据:

1、材料:pei

2、适用ic尺寸:1.5x1.5~12x12mm
3、最高频率:>9.3ghz
4、结构:open-top/翻盖
5、接触方式:探针
6、工作温度:-55°c~175°c
探针接触细节
产品特点:
1、采用开模socket 探针的结构,大大降低设计、加工
成本,降低了使用费用
2、根据实际测试情况,选用不同探针,可以对
ic进行有锡球、无锡球不同测试
3、交期快,最快1天交货,提高使用效率

4、进口探针配合高精度模具,socket测试更稳定,使用寿命更长



5032单面弹晶振老化座4pin

采购:5032-4pin单面弹晶振测试座

  • *联系人:
  • *手机:
  • 公司名称:
  • 邮箱:
  • 您是从哪里找到我们的:
  • *采购意向:
  • *验证码:验证码

跟此产品相关的产品 / related products

鸿怡九游会平台的产品中心products

ssd固态硬盘测试方案

u盘flash测试座

晶振测试座

ddr测试夹具

emmc/emcp数据恢复

精密定制ic测试座

老化测试座

烧录编程座

端子板(adapter)

ic测试治具

fpc-connector夹子

芯片/老化开短路九游会平台的解决方案

bga返修

ate测试座(自动机台适用)

测试探针

电阻容老化测试座

3c接口转接头

蝶形/金属管壳/陶瓷等jun工级封装

联系鸿怡电子

咨询热线13632719880
  • 座机:0755-83587595
  • 邮箱:liu@hydz999.com
  • 传真:0755-23287415
  • 地址:深圳华强北中电b座三楼3010c

网站地图