bga100翻盖探针转dip48芯片测试座|u盘flash测试座 -九游会平台
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标准ic测试座
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bga100翻盖探针转dip48芯片测试座详细信息/detailed information

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bga100翻盖探针转dip48芯片测试座

工厂直销,欢迎批发,质优价廉!
bga100翻盖探针转dip48芯片测试座
间距1.0mm,常规尺寸12×18mm、14*18mm,
大量现货,当天发!
订购热线:13631538587

测试座特点:

1. 座头采用手动翻盖结构,操作灵敏。
2. 座头顶盖的芯片压块采用人性化结构,下压力度平稳,保证ic的压力均匀,不偏移。
3. 探针的爪头凸起能有效刺破锡球的氧化层,接触性能稳定, 保护锡球外形。
4. 理性化的定位槽、导向孔可以确定ic定位精确。
5. 特殊ic载板结构,保护探针不受外力损坏。
6. 探针:进口探针,铍铜镀硬金、铑。寿命8万次以上
7.维修成本低:方便更换探针,成本低效率高。
8.高强度耐高温绝缘材料:330度。
9.成熟加工精度范围:跳距pitch=0.38mm。
10.交货周期:现货
现货bga63/bga107/bga100/bga137/bga136/bga149/bga152/bga199/bga225测试座转成dip48,同时可根据客
户的测试板制作bga测试座,lga测试座

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