bga152/132翻盖探针测试座|ssd固态硬盘测试方案 -九游会平台

bga152转dip48翻盖探针测试座

产品简介

产品用途:测试座，对bga152/bga132的flash芯片进行测试

适用封装: bga152/bga132 引脚间距1.0mm

测试座: bga152-1.0

特点:  采用进口探针，电阻值更小，可过更高的测试频率；

              使用寿命更高，可长达15万次左右，测试稳定性更高；

              可维修，芯片测试良率较其它品牌的弹片测试座可提高3%-8%；

              翻盖结构，取放芯片方便，操作更简单。

规格尺寸

型号:bga152-1.0

引脚间距(mm):1.0

测试座装针数量:88pin

适配芯片尺寸:（可更换限位框）

14*18mm (bga152) , 

12*18mm (bga132) , 

hmilu测试座/烧录座使用注意事项：

在使用测试座/烧录座过程中如发现不能使用或是测试性能不稳定，建议使用以下方法解决，

1、用气枪或静电毛刷把socket里面杂质清除，使其接触良好；

2、用无水酒精清洗socket，把弹片顶端的附着杂质清洗干净，使其接触良好；

3、如发现socket里面的弹片有烧坏，请购买相应socket更换；

4、插上接口未检测到或无法进行测试，请检查socket里面的弹片有无烧坏；

5、严禁用天那水、洗板水等有机溶济浸泡、清洗，以免损坏socket内部结构；

6、长时间不使用时，请使用防静电袋密封保存，避免灰尘落入，影响产品测试性能。