bga152/132翻盖探针老化座|ssd固态硬盘测试方案 -九游会平台
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bga152/132翻盖探针老化座详细信息/detailed information

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bga152/132翻盖探针老化座

一、产品用途:bga152/132探针测试座,对bga152/bga132的芯片进行测试
二、适用封装:bga152/bga132 引脚间距1.0mm
三、bga152/132翻盖探针老化座:bga152-1.0
四、有球无球兼容测试,测试稳定
订购热线:13631538587

bga152翻盖弹针老化座

产品简介

一、产品用途:bga152/132探针测试座,对bga152/bga132的芯片进行测试

二、适用封装:bga152/bga132 引脚间距1.0mm

三、bga152/132翻盖探针老化座:bga152-1.0

四、有球无球兼容测试,测试稳定

五、特点:探针采用进口的,电流能过3a、寿命达15万次以上、测试传输速度快。翻盖换取芯片方便,操作简单

 

采购:bga152/132翻盖探针老化座

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