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bga272翻盖探针安国主控u盘测试夹具详细信息/detailed information

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bga272翻盖探针安国主控u盘测试夹具

bga272翻盖探针测试座安国主控u盘测试夹具flash测试座接受定制
订购热线:13631538587

bga316翻盖探针u盘测试夹具

一 产品特点:

1.socket兼容有球无球测试,ic限位框可更换,相比同类产品具有使用寿命长、通用性广;

2. 支持热拔插和电源单独开关,支持通过usb接口或通过连线与板上排针对应pin相连接进行测试;

3. 探针采用进口铍铜镀金,可更换可维修,大大节约了成本

4. 接触模块采用整体结构,减少重复定位问题,保证其接触点与ic pad精准对位,一次测试通过率高;
5. 采用扎针结构保证接触良好,socket与pcba采用定位孔结合方便更换;
6. 采用翻盖式式结构,更加便于手动化测试,操作方便简单;
7. 压ic采用模具整体成型加弹簧自适应结构,保证不同厚度的ic不需要任何调整即可其接触良好,所
测试ic通用性广(厚度0.6-2.0mm 范围都可测试)
8. 结构采用注塑成形,定位精确,取放ic方便,工作效率更高;

二 测试

(1) 把ic按方向平放入socket内。
(2) 把usb线插到电脑上usb接口,打开板上的电源开关,选择相应的测试程式
 
三 实物图


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