csop16翻盖探测老化座测试座socket夹具-九游会平台
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csop16翻盖探测老化座测试座socket夹具详细信息/detailed information

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csop16翻盖探测老化座测试座socket夹具

产品简介:非标准csop封装芯片
设计要点:探针与芯片本体底部pad接触,避免芯片引脚变形
材质:铝合金 peek
寿命:10w
订购热线:13631538587
测试座(夹具)特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式,相比同类测试产品使ic与pcb之间数据传输距离更短,从而使测试 更稳定,频率更高。
④测试(老化)pcb与socket采用定位销定位及防呆,采用螺丝连接、固定,拆卸、维护简单方便。

csop16封装图

csop16老化座

csop16测试夹具

csop16测试座


采购:csop16翻盖探测老化座测试座socket夹具

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