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ddr3×16一拖四内存颗粒测试治具详细信息/detailed information

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ddr3×16一拖四内存颗粒测试治具

ddr3×16 一拖四pogo pin探针结构测试治具
规格:
1、ddr3×16 96 ball pitch:0.8
2、频率f:超过2400mhz
3、适用于:三星、海力士、现代、华邦、美光、等各类内存颗粒
订购热线:13631538587

ddr3×16 一拖四pogo pin探针结构测试治具

规格

1ddr3×16  96 ball  pitch0.8

2、频率f:超过2400mhz

3用于:三星、海力士、现代、华邦、美光等各类内存颗粒

 

材料&特性

1、socket材料:优质铝合金、工程玻纤、工程塑料

2、pcba材料fr4、镀金焊盘30mil,导电性、抗氧化性强

3、探针:

        材料:

             针管:磷铜

             针头:铍铜

             弹簧:琴钢丝

        电气性能:

        额定电流:1.5a

        接触阻抗:65-182 mohm(最大工作行程状态下)

        机械性能:

        压力:28g±20%(工作行程内)

        测试寿命:10 万次

采购:ddr3×16一拖四内存颗粒测试治具

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