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定制bga77-1.27(9x15mm)合金翻盖探针测试座-带散热片详细信息/detailed information

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定制bga77-1.27(9x15mm)合金翻盖探针测试座-带散热片

bga77翻盖探针测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1a;
⑥操作压力:30g、pin越多压力越大;
⑦接触电阻:<100mω;
⑧环境温度:-55℃~155℃;
⑨机械寿命:100000;
订购热线:13631538587
bga77翻盖探针合金测试座
测试座(夹具)特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式,相比同类测试产品使ic与pcb之间数据传输距离更短,从而使测试 更稳定,频率更高。

④测试(老化)pcb与socket采用定位销定位及防呆,采用螺丝连接、固定,拆卸、维护简单方便。

bga77探针座

bga77烧录座

bga77测试socket

bga77鸿怡电子

bga77老化socket

采购:定制bga77-1.27(9x15mm)合金翻盖探针测试座-带散热片

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