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定制clcc44-1.27测试座 合金翻盖探针老化座编程座 ic座详细信息/detailed information

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定制clcc44-1.27测试座 合金翻盖探针老化座编程座 ic座

适用封装芯片为:clcc44pin 间距为1.27mm 尺寸:16.5*16.5m
根据客户需求,上盖和底盖均需要做避空处理
订购热线:13631538587

产品特点:

1、本品为翻盖结构合金探针测试座;
2、适用于间距为1.27mm的clcc封装芯片;
3、紧凑的设计和较小的测试压力;
4、独特的结构避免卡球;
5、可更换限位框,高精度的定位槽和导向孔,测试准确无误;
6、根据实际测试情况,选用不同探针,可以对ic进行有锡球、无锡球不同测试;
7、人性化设计,探针可更换,便于拆卸、维护,降低测试成本;
8、进口探针、工程材料结合高精度制作设备,socket测试更稳定,使用寿命更长。

产品参数:

适用封装芯片为:clcc44pin 间距为1.27mm 尺寸:16.5*16.5mm

1、绝缘抗阻: 1000mω min.at dc 500v      
2、耐电压: 1 minute at ac 700v                                 3、接触抗阻: 30mω or less at 10ma and 20mv (initial)                    
4、额定电流: 1a 频率:1g以内                               
5、工作温度: -40℃~ 175℃                       
6、接触压力: 8-10g pin (normal)              
7、使用寿命: 15,000 times (mechanical)                     
8、工作压力: 2.0 kg max

采购:定制clcc44-1.27测试座 合金翻盖探针老化座编程座 ic座

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