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定制qfp176-0.4 芯片测试座 翻盖双扣旋钮测试治具
定制qfp176-0.4 芯片测试座 翻盖双扣旋钮测试治具详细信息
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定制qfp176-0.4 芯片测试座 翻盖双扣旋钮测试治具
工厂直销,qfp176-0.4合金翻盖测试座;
可根据客户需求定制不同封装、间距、尺寸的ic测试座;
欢迎来图,来电咨询洽谈;
订购热线:
13631538587
产品特点及性能参数:
※ 采用手动翻盖式结构,操作方便;
※ 上盖的ic压板采用旋压式结构,下压平稳,压力均匀,不移位;
※ 探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠;
※ 高精度的定位槽,保ic定位精确;
※ 采用浮板结构有球无球都能测,
※ 探针材料,
※ 探针可更换,维修方便,成本低。
※ 绝缘材料制作;
※ 最小可做到跳距pitch=0.35mm(引脚中心到中心的距离);
※ 交货快:最快3天内交货。
产品服务:
※ 三个月免费保修(人为损坏除外)。
※ 保修期外,免费维修,如果需换件,只收材料成本费。
※ 可以免费提供相关的j9九游会登陆入口的技术支持。
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