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定制sot89-3l-1.5（4.5x2.45）合金翻盖探针老化座测试座夹具

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定制sot89-3l-1.5（4.5x2.45）合金翻盖探针老化座测试座夹具

sot89-3l封装芯片测试座，本体尺寸4.5*2.45mm
电流100ma
功率：0.5w
老化温度：125度@1000h
芯片背面有接地pad，需要使用用铜块散热

订购热线：13631538587

1、适配芯片规格：

sot89-3l封装

sot89-3l封装芯片测试座特点：
①测试座设计成翻盖结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式，相比同类测试产品使ic与pcb之间数据传输距离更短，从而使测试更稳定，频率更高。
④测试（老化）pcb与socket采用定位销定位及防呆，采用螺丝连接、固定，拆卸、维护简单方便。

sot89-3l测试socket

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