晶体振荡器插座2.0 x1.6mm贴片晶振老化测试座|晶振测试座 -九游会平台
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晶体振荡器插座2.0 x1.6mm贴片晶振老化测试座详细信息/detailed information

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晶体振荡器插座2.0 x1.6mm贴片晶振老化测试座

open-top结构采用双触点技术,接触更稳定 测试座外壳采用特殊的工程塑胶,强度高、寿命长 弹片采用进口铍铜材料,阻抗小、弹性好 镀金层加厚,触点加厚电镀,超低接触阻抗、高可靠度
订购热线:13631538587

产品特点:

1、pen-top结构采用双触点技术,接触更稳定;

2、座子外壳采用特殊的工程塑胶,强度高、寿命长;
3、弹片采用进口铍铜材料,阻抗小、弹性好;
4、镀金层加厚,触点加厚电镀,超低接触阻抗、高可靠度;

材料性能:

1、socket 本体: pei
2、弹片材料:铍铜
3、弹片镀层:镍金
4、操作压力:0.5kg min,pin越多压力越大
5、接触阻抗:50mω max.
6、耐压性:700v ac for 1 minute
7、绝缘电阻:1,000mω 500v dc
8、最大电流 :2a
9、使用温度:-55℃~ 175 ℃
10、使用寿命:
open-top结构:15000 次(机械测试)
翻盖结构:200000 次(机械测试)


频率测试座结构

采购:晶体振荡器插座2.0 x1.6mm贴片晶振老化测试座

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