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lga60翻盖探针转dip48芯片测试编程座详细信息/detailed information

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lga60翻盖探针转dip48芯片测试编程座

工厂大量现货 lga60翻盖探针转dip48测试座 lga60烧录座 探针 lga60编程座
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lga60翻盖探针转dip48测试座

产品简介

 1. 大小兼容设计,只要换限位框,即可测试外形尺寸不同的lga  flash;

 2. lga测试座测试寿命可达20万次以上,是yamaichi和okins同类lga socket寿命的10倍以上;并且探针可更换,维修方便,成本低;

 6. 采用手动翻盖式结构,操作方便;

 7. 上盖的压板采用特殊结构,下压平稳,保证ic的压力均匀,不移位;

 8. 高精度的定位槽,保证lga定位精确,生产效率高;

 9. 整机24小时工作性能稳定可靠,是flash经销商及u盘工厂好帮手!

 10. 探针材料:铍铜(标准);

 11.绝缘材料:fr-4、pps等;

 产品功能

 1. 对flash进行清空及分类挑选。

 2.对nand flash进行格式化,测试实际可以用容量。

 3.对flash进行直接量产,提高u盘生产效率。

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