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qfn10(3*3)下压弹片测试座 芯片适配座qfn10老化座0.5间距详细信息/detailed information

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qfn10(3*3)下压弹片测试座 芯片适配座qfn10老化座0.5间距

鸿怡电子主要生产、销售各类ic测试座,ic测试夹具,老化测试座,高频测试座,bga测试插座,贴片sop测试插座等.测试座封装含概:bga,,csp,pga,qfn,mlf,lga,qfp,tsop,sop,plcc,soj,to等,并且可以根据客户需求定制bga/qfn测试座.无论您是设计,测试,烧录,还是老化,生产,必有一款满足您的要求欢迎致电联系。
订购热线:13631538587

鸿怡电子提供最全的qfn/mlf/dfn等封装的ic测试/老化测试插座,脚距从0.25mm至1.0mm,常用型号均备有大量现货.严谨的测试、生产工艺,为客户提供优质的qfn/mlf/dfn测试座产品,并可根据客户芯片的规格,测试要求,提供高标准的定制化服务。



qfn10-0.5下压弹片测试座


产品简介

产品用途:编程座、测试座,对qfn10的ic芯片进行烧写、测试

适用封装:qfn10 引脚间距0.5mm

测试座:qfn10-0.5

特点:采用u型顶针,接触更稳定


规格尺寸

型号:qfn10-0.5

引脚间距(mm):0.5

脚位:10

芯片尺寸:3*3mm


采购:qfn10(3*3)下压弹片测试座 芯片适配座qfn10老化座0.5间距

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