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qfn12-0.4(5*5)翻盖弹片芯片老化测试座详细信息/detailed information

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qfn12-0.4(5*5)翻盖弹片芯片老化测试座

qfn12-0.4翻盖弹片老化座qfn12测试座 编程座 ic549-0124-001-g
工厂直销店铺 欢迎批发 质优价廉! 翻盖弹片老化座
qfn12-0.4hmilu自有品牌,大量现货当天发! 【0.4间距/不带板】
订购热线:13631538587

qfn12-0.4(5*5)翻盖弹片芯片老化测试座


产品简介

产品用途 编程座、测试座,对qfn12的ic芯片进行烧写、测试
适用封装 qfn12,mlp12,mlf12 引脚间距0.4mm
测试座 qfn12-0.4
特点 采用u型顶针,接触更稳定

规格尺寸

qfn12-0.4 编程座/测试座适用芯片详细规格,以及适配座外形尺寸:

型号 引脚间距 引脚数 适用ic尺寸 外型尺寸 中心脚
实体
a x b
qfn12-0.4 0.4 12 5 × 5


对应国外产品型号:


ic549-0124-001-g


采购:qfn12-0.4(5*5)翻盖弹片芯片老化测试座

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