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qfn12-0.5(3*3)下压弹片芯片老化测试座详细信息/detailed information

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qfn12-0.5(3*3)下压弹片芯片老化测试座

qfn12-0.5芯片老化座 下压qfn12测试座 np506-012-033-c-g
工厂直销店铺 欢迎批发 质优价廉! 下压弹片老化座,qfn12-0.5
hmilu自有品牌, 【0.5间距/不带板】
订购热线:13631538587

qfn12-0.5(3*3)下压弹片芯片老化测试座


产品简介

产品用途 编程座、测试座,对qfn12的ic芯片进行烧写、测试
适用封装 qfn12,mlp12,mlf12 引脚间距0.5mm
测试座 qfn12-0.5
特点 采用u型顶针,接触更稳定

规格尺寸

qfn12-0.5 编程座/测试座适用芯片详细规格,以及适配座外形尺寸:

型号 引脚间距 引脚数 适用ic尺寸 外型尺寸 中心脚
实体
a x b
qfn12-0.5 0.5 12 3 × 3


对应国外产品型号:np506-012-033-c-g

采购:qfn12-0.5(3*3)下压弹片芯片老化测试座

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