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qfn36-0.5翻盖弹片ic老化测试座详细信息/detailed information

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qfn36-0.5翻盖弹片ic老化测试座

产品用途: 编程座、测试座,对qfn36的ic芯片进行烧写、测试
适用封装: qfn36引脚间距0.5mm
测 试 座: qfn36-0.5
特 点: 底部引出引脚为不规则排列
订购热线:13631538587

 

qfn36翻盖弹片测试座

 

产品简介

 

产品用途 编程座、测试座,对qfn36的ic芯片进行烧写、测试
适用封装 qfn36引脚间距0.5mm
测试座 qfn36-0.5
特点 底部引出引脚为不规则排列

 


采购:qfn36-0.5翻盖弹片ic老化测试座

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