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qfn40-0.4下压弹片ic测试老化座详细信息/detailed information

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qfn40-0.4下压弹片ic测试老化座

产品用途:编程座、测试座,对qfn40的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn40引脚间距0.4mm
测 试 座:qfn40-0.4
特 点:采用u型顶针,接触更稳定
订购热线:13631538587

qfn40-0.4下压弹片测试座

 产品简介

产品用途:编程座、测试座,对qfn40的ic芯片进行烧写、测试

适用封装:qfn40引脚间距0.4mm

测试座:qfn40-0.4

特点:采用u型顶针,接触更稳定

采购:qfn40-0.4下压弹片ic测试老化座

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