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qfn40-0.5翻盖弹片ic测试老化座
qfn40-0.5翻盖弹片ic测试老化座详细信息
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qfn40-0.5翻盖弹片ic测试老化座
产品用途: 编程座、测试座,对qfn40的ic芯片进行烧写、测试 适用封装: qfn40引脚间距0.5mm 测 试 座: qfn40-0.5 特 点: 底部引出引脚为不规则排列
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qfn40翻盖弹片测试座
产品简介
产品用途
编程座、测试座,对qfn40的ic芯片进行烧写、测试
适用封装
qfn40引脚间距0.5mm
测试座
qfn40-0.5
特点
底部引出引脚为不规则排列
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