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qfn64-0.5翻盖弹片ic测度老化座详细信息/detailed information

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qfn64-0.5翻盖弹片ic测度老化座

产品用途: 编程座、测试座,对qfn64的ic芯片进行烧写、测试
适用封装: qfn64引脚间距0.5mm
测 试 座: qfn64-0.5
特 点: 底部引出引脚为不规则排列
订购热线:13631538587

qfn64翻盖弹片测试座

 

产品简介

 

产品用途 编程座、测试座,对qfn64的ic芯片进行烧写、测试
适用封装 qfn64引脚间距0.5mm
测试座 qfn64-0.5
特点 底部引出引脚为不规则排列

 

采购:qfn64-0.5翻盖弹片ic测度老化座

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