手机芯片ufs2.0 2.1测试座 合金探针老化座 翻盖式插座 ufs编程座|老化测试座 -九游会平台
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手机芯片ufs2.0 2.1测试座 合金探针老化座 翻盖式插座 ufs编程座详细信息/detailed information

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手机芯片ufs2.0 2.1测试座 合金探针老化座 翻盖式插座 ufs编程座

可根据客户需求定制各类ufs测试治具。
在客户现有的手机主板或是其它pcba板上,直接将socket精准的固定在产品之上,无需layout,大大降低测试成本,广泛适用于odm/半导体fae部门的ic验证。
订购热线:13631538587
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* 100%全新,更高品质、更耐用
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可根据客户需求定制各类ufs测试治具。
在客户现有的手机主板或是其它pcba板上,直接将socket精准的固定在产品之上,无需layout,大大降低测试成本,广泛适用于odm/半导体fae部门的ic验证。

ufs2.0 翻盖旋钮探针测试座

产品特性

类型:测试及老化(不带pcb)

封装:ufs2.0/2.1

pin数:153/169针

间距::0.5mm

适用于ic尺::11.5*13mm

可测试的ufs芯片型号:kluag2g1bd-e0b2 / klubg4g1bd-e0b1 / klucg8g1bd-e0b1

特别说明:客户也可以提供手机给我们定制手机测试架,如有需要,请联系客服咨询,谢谢!

产品图片:


ufs测试座3_副本

ufs测试座2_副本

ufs测试座1_副本

ufs测试座_副本


采购:手机芯片ufs2.0 2.1测试座 合金探针老化座 翻盖式插座 ufs编程座

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