1、采用手动翻盖/双扣式结构,操作方便；上盖的ic压板采用旋压式结构,下压平稳,保证ic的压力均匀,不移位
2、探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠，而不会损伤锡球
3、高精度的定位槽和导向孔，保证ic定位精确，测试效率高；测试频率可达9.3ghz
4、用途：集成电路应用功能验证测试；可根据用户要求定做各种阵列的socket
5、有翻盖式结构和双扣结构两种方式可供选择,操作方便；上盖的ic压板采用旋压式结
| pith e(mm) | pin cout | package size(mm) | part number | clamshell/open top |
| 0.5 | 30 | 11.5*13 | emmc自动机台测试治具 | open top |
| 0.5 | 221 | 11.5*13 | emcp221芯片测试治具 | clamshell |
| 0.5 | 153/169 | 11.5*13 | emmc153/169通用socket 转接板—新结构 | clamshell |
| 0.5 | 162/186 | 12*12 | emcp162/186通用socket 转接板—新结构 | clamshell |
| 0.5 | 162/186 | 11.5*13 | emcp通用socket 功能分析转接板 | clamshell |
| 0.5 | 153/169 | 11.5*13 | emmc153/169通用socket 转接板 | clamshell |
| 0.5 | 153/169 | 11.5*13 | emmc通用socket 功能分析转接板 | clamshell |
| 0.5 | 162/186 | 11.5*13 | emcp162/186通用socket 转接板 | clamshell |
| 0.5 | 30 | 11.5*13 | emmc153/169探针转sd芯片测试座 | clamshell |
| 0.5 | 30 | 12*16 | emcp162/186探针转sd芯片测试座 | clamshell |
| 0.5 | 30 | 11.5*13 | emmc153/169测试座转usb接口 | open top |
| 0.5 | 35 | 11.5*13 | emcp162/186测试座转usb接口 | open top |
| 0.5 | 30 | 11.5*13 | emmc153/169翻盖弹片转sd接口测试座 | clamshell |
| 0.5 | 35 | 14*18 | emcp162/186翻盖弹片转sd接口测试座 | clamshell |
| 0.5 | 30 | 12*18 | emmc153/169下压弹片转sd接口测试座 | open top |
| 0.5 | customized | 12*16 | emcp186/62下压弹片转sd接口测试座 | /open top |
| 0.5 | customized | 12*16 | 三星黄点转dip48探针测试座 | clamshell |
| 0.5 | customized | 13.5*9.5 | 镁光黄点转dip48探针测试座 | clamshell |
| 0.5 | customized | 14*18 | samdisk黄点转dip48探针测试座 | clamshell |
扫一扫
