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lga4-1.65x2.05-0.98 smd测试座
夹具
读写编程转换座烧录治具socket
1、工作温度:-40℃~125℃@1000h;
2、针板材质:陶瓷peek;外壳材质:pei、pps;
3、探针镀覆:3μ" au over 50-100μ" ni(鍍金3μ",鎳底50~100μ");
4、单pin额定电压&电流:直流12v&1.0a;
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bga291essd颗粒芯片emmc芯片测试座读写
夹具
治具烧录socket
产品简介:新型ssd颗粒封装形式,bga291ball,测试座仅引出174ball进行读写测试。 1:材质:铝合金、peek、pei 2:接触材质:镀镍金铍铜弹片针 3:最高写速度160mb/s,读速度220mb/s 4:接触阻抗:<50毫欧 5:...
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定制手自一体cqfp132-0.635探针测试座
夹具
治具socket
1、工作温度:-55℃~155℃@3000h;
2、针板材质:陶瓷peek;外壳材质:铝合金;
3、探针镀覆:3μ" au over 50-100μ" ni(鍍金3μ",鎳底50~100μ");
4、单pin额定电压&电流:直流12v&1.0a;
...
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定制dfn8-1.95-8×8塑胶翻盖探针高温老化座
夹具
socket治具
1、工作温度:-40℃~125℃@1000h;
2、针板材质:陶瓷peek;外壳材质:pei、pps;
3、探针镀覆:3μ" au over 50-100μ" ni(鍍金3μ",鎳底50~100μ");
4、单pin额定电压&电流:直流12v&1.0a;
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定制md显示模组18pin传感器合金翻盖测试座
夹具
治具socket
①结构:翻盖式顶窗;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1a;
⑥操作压力:30g、pin越多压力越大;
⑦接触电阻...
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定制qfn21-0.4(3x4)合金翻盖测试座
夹具
socket
1、工作温度:-55℃~155℃@3000h;
2、针板材质:陶瓷peek;外壳材质:铝合金;
3、探针镀覆:3μ" au over 50-100μ" ni(鍍金3μ",鎳底50~100μ");
4、单pin额定电压&电流:直流12v&1.0a;
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定制bga353-0.65(14x14)合金翻盖旋钮探针老化座
产品特点及性能参数:
采用翻盖式旋钮结构,下压平稳接触稳定;
上盖的ic压板采用旋压式结构,下压平稳,压力均匀,不移位;
探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠;
高精度的定位槽...
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定制dfn12-0.45(3×3)合金翻盖探针测试座
测试座(
夹具
)特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座...
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ots-16-1.27(2.54)-04下压弹跳座老化
夹具
老炼治具测试烧录socket
特点:
采用双触点技术,接触稳定;
座子外壳采用特殊的工程塑胶,强度高、寿命长
弹片采用进口铍铜材料,阻抗小、弹性号、寿命长
镀金层加厚,触点加厚电镀,接触稳定超低接触阻抗、抗氧化程度...
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qfn56翻盖探针测试座老化
夹具
治具socket带热沉接地pad针
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1a;
⑥操作压力:30g、pin越多压力越大;
⑦接触电阻:<...
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自动化手自一体 邮票孔模块 探针烧录治具
夹具
测试socket 机械图烧录
产品简介:适用与自动设备、人工两用的手自一体测试治具。
适配芯片:48pin,1.27间距,邮票孔模块。
机械寿命:>10w次(可通过更换探针延长寿命)。
材质:peek陶瓷、镀镍金磷铜。
适用环境温...
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to247-3l老化插座 老化
夹具
高温老炼socket治具 mosfet功率被动器件老化
产品简介:
特点:采用摇杆所锁紧设计方式,相对传统的拔插式可以降低器件的摩擦损伤。
特性:温度-45-175℃,电流80a,频率无要求,接触阻抗小于30毫欧,耐压1000v dc。
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定制fbga\flga2577ball封装测试治具
夹具
测试座socket老化治具bga功能性测试
产品简介:针对flga封装2577ball芯片进行功能性检测。
适配ic规格:flga封装,2577pin,间距1.0mm,外形尺寸52.5*52.5mm。
性能要求:需要过12.5gbps高速差分对信号,功耗50~10w之间,单次测试时长3~5min,...
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定制bga48翻盖探针测试架测试治具
夹具
工装socket
产品简介:
①根据客户提供的产品来设计固定被测芯片socket,用于免焊接快速验证测试芯片功能。
②采用铝合金夹板,表层氧化绝缘,经久耐磨。
③核心精密针板采用peek工程材料cnc加工而成,精准度可达...
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定制qfn56翻盖探针测试座
夹具
老化座治具
产品简介:定制qfn56测试座
夹具
,接地散热大pad需要加大探针。
适配ic规格:qfn封装,56pin,引脚中心间距0.5mm,尺寸8*8,厚度0.85±0.15mm。
电气性能要求:
①测试频率1...
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定制lqfp100翻盖旋钮探针烧录座0.65间距(16*22)
夹具
治具socket
产品简介:lqfp100适配编程器烧录座
夹具
治具。
适配ic规格:lqfp封装,100脚,引脚中心间距0.65mm,本体尺寸14*20mm,含引脚尺寸16*22mm。
性能需求:
①用途:烧录
②...
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定制bga117ball翻盖探针老化
夹具
老炼座测试座socket治具
产品简介:定制bga117ball合金探针老化
夹具
。
适配芯片规格:bga封装,117ball,引脚中心间距1.0mm ,外形尺寸10*14mm。
电气性能要求:
①电流1a。
②老化温度125度,...
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定制qfn34-0.5翻盖探针测试座老化座
夹具
socket
产品简介:定制非标qfn封装34pin芯片测试座
测试座(
夹具
)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质...
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dsbga6封装mosfet/温度传感器芯片测试座
夹具
烧录编程座socket
产品简介:dsbga-6封装测试座
常见芯片:mosfet/温度传感器
适配封装规格:dsbga6,间距0.4,尺寸:1.285*0.885mm。
性能参数:测试电流1a,测试频率100mhz,环境温度125℃以内。
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pcr导电胶手自一体bga112ball封装测试座
夹具
治具socket
产品简介:bga112封装pcr导电胶高频/高速测试座
夹具
socket。
适配芯片规格:bga封装112ball,0.5间距,尺寸5.5*5.5*1.15。
socket性能参数:在温度-40~125℃下跑高频12ghz持续老...
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