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邮票孔模块测试座（夹具）特性
①结构：翻盖式；
②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：peek陶瓷；
⑤额定电流：1a；<...

bga484测试架测试治具测试夹具
性能参数：
接触方式：pogopin
机械寿命：10万
工作频率：700mhz；
工作温度：常温；
单pin电流：1a；
接触阻抗：≤10...

产品简介：sot-6封装芯片测试座 适配ic规格：sot封装，6pin，间距0.9，尺寸3.9*4 温度：-40~125℃ 电流：每单pin电流在1a以内 频率：1000mzh以内

产品简介：plcc48封装光通信模块测试座
模块规格：外形尺寸16.4*16.4，焊盘间距1.0 最大厚度4.0
温度：要求能耐-50~100度，持续的时间1000小时
速率：单通道速率3gbps，速率最高可能跑到10gbps 更多

产品简介：客户提供产品底板拆装而成
1、应用：2.5gzh-wifi邮票孔模块，44pin
2、射频要求：2.5ghz，回损-15db，插损-db
3、电流：1a以内
4、温度：常温环境
5、寿命：10w

产品简介：非标bga49芯片老化测试座，采用我司现有塑胶外壳及核心弹片胶芯半定制而成
socket本体：pei peek
弹片材料：铍铜
弹片镀层：镍金
操作压力：0.5kg min ，pin越多压力越大
绝缘阻...

产品简介：开模注塑外壳，核心部分通过cnc加工的方式定制各种非标老化测试座。
适配芯片尺寸：小于6*8mm
座子外形尺寸：12*18mm
耐温范围：-40℃~125℃，相对湿度小于85%
接触方式：pogopin
...

产品简介：2.5ghz-wifi邮票孔模块测试座
性能参数：
1、频率：2.5gh@1db，回损-15db；
2、温度85℃
3、电流1a以内，底部热沉焊盘加铜块散热
4、接触方式：pogopin
5、机械寿命：10000...

塑胶探针测试座
1、工作温度：-40℃~125℃@3000h；
2、针板材质：陶瓷peek；外壳材质：pei、pps；
3、探针镀覆：3μ" au over 50-100μ" ni；
4、单pin额定电压&电流：直流12v&1.0a；
5、耐...

翻盖探针合金测试座
测试座（夹具）特点：
①测试座设计成翻盖结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使...

测试架（夹具）特点：
①翻盖旋钮结构，压合平稳接触稳定。
②外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③使用进口双头探针接触方式，相比同类测试...

qfp芯片测试架简介：
产品简介：
用途：在客户原有的产品上面验证测试qfp100封装的微控制器芯片。
测试架类型：翻盖旋钮式
接触方式：双头测试探针
工作频率：430mhz
特点：①按芯片管...

测试座（夹具）特性
①结构：翻盖式；
②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：peek陶瓷；
⑤额定电流：1a；
⑥操作...

测试座（夹具）特点：
①测试座设计成翻盖结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座...

测试座（夹具）特点：
①下压（按压式结构），适配于自动化设备气缸、机械手使用，大大提高烧录测试效率。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限...

产品简介：ate自动设备测试socket
接触材质：pogopin
外壳材质：peek陶瓷
频率：2.5ghz
机械寿命：10w
额定电流：1a
适用温度：-55~155℃

产品简介：适用于大阵列多pin数的芯片低成本老化，外壳采用pei注塑成型，可以长期在高温高湿环境下对芯片进行老化测试。
特性：
1、老化温度：-40℃~125℃；
2、针板材质：陶瓷peek；外壳材质：pei、...

测试座（夹具）特点：
①翻盖旋钮结构，压合平稳接触稳定。
②外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③使用进口双头探针接触方式，相比同类测试...

产品简介：
①翻盖旋钮结构，压合平稳接触稳定。
②外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③使用进口双头探针接触方式，相比同类测试产品使ic与pcb之间数据传输距离更短，...

产品简介：pga封装器件探针测试夹具
1、工作温度：-55℃~155℃@5000h；
2、针板材质：陶瓷peek；外壳材质：铝合金；
3、探针镀覆：3μ" au over 50-100μ" ni（鍍金3μ",鎳...