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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: hmilu测试探针p50-h

产品名称：hmilu-p50-h、hmilu-pa50-h
所属分类：测试探针
产品简介：测试探针外径w为0.68mm，顶针总长为16.55mm测试探针、...
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: hy026-jj-5.7l双头探针

产品型号：hy026-jj-5.7l双头探针
所属分类：双头探针
产品头型：探针外径为0.26mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型为圆头、爪头
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要...
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: hy026-ju-5.7l双头探针

产品型号：hy026-ju-5.7l
所属分类：双头探针
产品头型：探针外径为0.26mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型为圆头、爪头
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要应用于：...
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: hy026-uu-5.7l双头探针

产品型号：hy026-uu-5.7l
所属分类：双头探针
产品头型：探针外径为0.26mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型均为爪头
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要应用于：ic t...
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: 测试探针hy-g1353-t

产品名称：hy-g1353-t
所属分类：测试探针
产品简介：hy-g1353-t-t探针、1.36mm测试针、总长36.5mm、弹簧针、测试针、顶针、探针
产品介绍（产品概述）：
针管：磷铜管...
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: hy030-uj-5.7l 双头探针

产品型号：hy030-uj-5.7l
所属分类：双头探针
产品头型：探针外径为0.30mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型为爪头、圆头
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要应用于：...
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: hy030-uu-5.7l 双头探针

产品型号：hy030-uu-5.7l
所属分类：双头探针
产品头型：探针外径为0.30mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型均为爪头
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要应用于：ic t...
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: hy030-bu-5.7l 双头探针

产品型号：hy030-bu-5.7l
所属分类：双头探针
产品头型：探针外径为0.30mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型为尖头、爪头
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要应用于：...
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: 高频探针001

产品名称：高频探针001
所属分类：高频探针
产品简介：高频针高频探针、高频测试针信号测试针 5针高频针测试探针
产品介绍（技术参数）：
针杆：黄铜镍上镀金
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: 供应bga双头探针高频探针

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[常见问题]测试探针的结构和使用寿命2021年10月08日 11:56: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。一般探针的材质为铍铜，外为镀镍金，由四个部分组成：针头、针管、针尾、琴钢丝；以此款探针的为例，管径为0.65mm，适用于0.8pitch；耐电流为：3a；机械测试寿命为：30 w次；使用温度为：-25～ 120c；如有其他不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师; 阅读（206）标签：产品|qfn系列|wson8|qfn烧录座|qfn老化座|微针模组|车规芯片老化测试座|bga老化测试座|dfn8||

[鸿怡动态]芯片测试座，助力芯片霸权之战2020年08月11日 17:11: 随着中美芯片之间的霸权战争愈演愈烈。中国的高端芯片之路必将走向胜利之路。我国的芯片又进入了一轮爆发期，芯片制造是一个点砂成金的过程，从砂子到晶圆再到芯片。芯片封装后，便进入测试阶段，测试不可缺少的一个检测耗材就是测试座（socket)。在前面我们详细介绍了测试座（socket）的功能、应用领域、结构、特性等内容详情参阅《助力“芯”火燎原，三分钟带你了解芯片测试座》。现就测试座的主要部件-“测试探针”作一些概述，希望对各位芯; 阅读（175）标签：

[鸿怡动态]icsocket测试治具测试针的功能2019年04月18日 14:33: 测试探针是icsocket测试治具的重要组成部分，是直接决定icsocket测试治具质量的关键性因素，那么测试探针主要有哪些功能呢?下面一起来了解下吧。 1、增强耐用度测试探针设计使弹簧空间比传统探针要大，因而可以达到更长的寿命和容纳更强的弹力。 2、独有的永不间断电接触设计行程超过或不足2/3其电性接触皆能保持性低阻值。彻底消除任何因探针导致的假性开路误叛。 3、至目标测点精准度误差更严谨测试治具测试针能达到同类型产品无法比拟的至目标测点精准度。; 阅读（79）标签：

[鸿怡动态]鸿怡电子ic测试座设计特点2018年12月12日 14:49: ic测试座(测试插座)是对ic器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试设备。鸿怡电子ic测试座设计特点：我们的ic测试座采用带浮动z轴压力盘的钳壳顶盖，以兼容封装厚度容差。低/中/高性能芯片测试探针高弹力的弹簧测试探针适合无铅封装最小可测试芯片封装间距低至0.25mm适用于bga,lga,mlp,qfp,qfn,tssop,wlcsp,csp,plcc模组，以及更多的封装类型。顶盖或ic测试座基座可内置散热器基材为高性能的peek/torlo; 阅读（73）标签：

[鸿怡动态]ic测试治具探针的清洁与保养2018年11月06日 17:15: icsocket测试治具的测试探针如何保养?下面鸿怡电子就来分享下经验： 1、环境保养：测试环境是引起测试探针变脏的主要因素，空气中播中污染物，像灰尘会掉落在针头上引起接触问题，所以我们要对测试针的环境保养。 2、针头：有一些状况不是只用刷子清洁就可以解决问题，因此用其他种类的溶剂或清洁化剂将会是最后的替代方法。建议方法是只要清洁针头，就将测试探针从治具上拆下，捆在一起只用针头泡在浅浅的清洁剂中大约五分种，用软毛擦试，移除残留物，然后晒干它，这样就可以安装回去继续测试。当; 阅读（251）标签：

[鸿怡动态]鸿怡电子ic测试座测试探针的特性？2018年09月18日 17:57: 大家都知道测试探针是ic测试座的重要部件之一，那么它有什么特性呢?下面我们一起来了解一下。鸿怡电子生产、定制的ic测试座产品，根据探针针头的结构不同，大多采用两种结构的探针,一种是尖头探针，大多用于qfn/qfp/lga等封装的芯片，可以直接扎在焊盘上。另外一种为爪头探针，适用于bga类似的球状焊盘点上。爪头包裹住芯片的锡球，使其更良好的接触。微型双头测试弹簧探针：可减少待测器件上测试球的共面性。适用ic间距：从0.3毫米到1.27毫米测试弹簧探针长度短减少电容、电感; 阅读（65）标签：

[行业资讯]鸿怡电子告诉您，什么是测试探针?2018年08月28日 15:37: 鸿怡电子拥有多年的ic测试座、测试治具设计研发生产经验，所有的探针均采用国外进口品牌。保证客户的测试更加精准，稳定。测试治具的寿命也更长！欢迎来电咨询！; 阅读（67）标签：

[行业资讯]晶振应用中常见问题及解决方法2018年08月10日 10:54: 使用我公司生产设计开模的可重复的贴片晶振测试座可大幅度的降低成本，经过不断的开发试验，我司已将治具制作标准化，提高治具的质量。晶振测试座中测试探针及相关材料的选用对测试治具的好坏及成本是非常重要的，我司探针均采用国外进口品牌，测试更稳定可靠，并且测试寿命也更长。?; 阅读（45）标签：

[常见问题]晶振是否起振？如何判断？2018年01月18日 15:50: 我公司生产设计开模?的可重复的贴片晶振测试座可大幅度的降低成本，经过不断的开发试验，我司已将治具制作标准化，提高治具的质量。晶振测试座中测试探针及相关材料的选用对测试治具的好坏及成本是非常重要的，我司探针均采用国外进口品牌，测试更稳定可靠，并且测试寿命也更长。; 阅读（178）标签：

[行业资讯]探针测试座中探针的作用详解2017年08月26日 10:24: ic测试探针的选择起着至关重要的一部，鸿怡电子生产、研发的ic测试治具，探针均选用日本进口探针。保证客户测试性能稳定的同时，寿命也更加长。; 阅读（218）标签：

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