鸿怡电子ic测试座设计特点|鸿怡动态 -九游会平台
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来源：鸿怡电子
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发布日期：2018-12-12 14:49:47【 】
九游会平台-j9九游会登陆入口(测试插座)是对ic器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试设备。
鸿怡电子ic测试座设计特点：
我们的ic测试座采用带浮动z轴压力盘的钳壳顶盖，以兼容封装厚度容差。
低/中/高性能芯片测试探针
高弹力的弹簧测试探针适合无铅封装
最小可测试芯片封装间距低至0.25mm
适用于bga,lga,mlp,qfp,qfn,tssop,wlcsp,csp,plcc模组，以及更多的封装类型。
顶盖或ic测试座基座可内置散热器
基材为高性能的peek/torlon/pei/peek ceramlc等材料
阳极电镀铝顶盖
每个测试座可含多个测试接口
探针测试座寿命>150000次
电气性能：
最高达30ghz,-1db损耗
3a的电流
温度范围：-55°c 155°c，根据不同的测试探针
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- 集成电路应用功能验证测试
可根据用户要求定做各种阵列的socket
emcp221翻盖弹片...
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- 1、工作温度：-55℃~125℃；
2、针板材质：陶瓷peek；外壳材质：铝合金；
3、探针...
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- 产品用途： 老化座、测试座，对tsop48的ic芯片进行测试
适用封装： tsop48宽体 引脚间...
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- 定制csop52-0.5 6.4x12.2合金翻盖测试座
测试座（夹具）特性
①结构：翻盖式；<...
