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- [新闻中心]深圳鸿怡电子lcc24pin封装芯片翻盖老化座案例2023年02月06日 11:05
- lcc测试座、lcc老化座规格： 芯片封装类型：lcc 芯片引脚：24pin 芯片引脚间距：1.27mm 芯片尺寸：8.5×8.5mm ic老化测试座 lcc封装芯片老化测试要求： 测试温度： 150，无低温要求 测试时长：8000小时（持续温度150） 测试操作力：30每p 测试频率：-1db 3g 测试电流：1a（@150） 接触电阻：30毫欧 10ma 20mv 绝缘电阻：dc100v 1000兆欧已上 老化座材料：pei 老化座结构：翻盖式
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- [新闻中心]ic测试socket厂家排名2023年01月31日 14:31
- ic测试座（ic socket）在2000年以前，芯片封装测试硬件（ic老化座、ic烧录座、ic测试座以及非标的加工定制测试座、开模定制测试座，还有芯片测试夹具、芯片测试架、芯片测试治具等）一直被国外的厂商所垄断，进口价格非常昂贵且没有售后可言。 国外主要两家品牌公司： 1、恩普乐斯(enplas)：日本企业，主要以工程塑料的精密加工，涉及半导体、生命科学、光电转换等等行业 2、山一电子（yamaichi）：日本企业，主要以连接器测试九游会平台的解决方案、半导体测试产品九游会平台的解决方案等等行业
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标签：新闻|产品|qfn系列||定制测试治具|邮票孔测试治具|电源测试座|晶振测试座|存储芯片测试座|晶振老化座|ssd芯片测试座
