ic测试不稳定怎么办?|行业资讯 -九游会平台
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浏览:- 发布日期:2018-08-10 17:55:15【 】

通常客户在用ate测试座做ic测试的时候,经常有反馈测试不稳定的问题。有的是测试项单独测pass,整个flow跑就会不稳定。有的是调试时单步执行pass,测试项整体跑就fail。有的是手测pass,量产一跑就fail。这种不稳定的问题,往往是最令人头疼的,但其实只要仔细分析,最终还是能够找到九游会平台的解决方案的。

归根结底,单独测pass,整个flow连着跑就不稳定,主要是由于前面的测试项的状态影响了当前测试项的状态。

量产不稳定

根据我个人的经验,量产不稳定主要发生在paramatric test的时候。比如dc的电压、电流值,或者adc/dac的snr, inl, dnl,或者pll的frequency等等。

当hander或者prober跑起来的时候,每次socket或者probe needle与dut接触的状况不一样,导致paramatric测试fail。当清洗socket或者按时清针不能解决问题的时候,我们需要把程序的margin调得更大一些。 通常cp测试比ft更容易出现parameter test的不稳定。因为cp测试整个docking的结构比ft测试更加复杂。

还有一种,是由于不恰当的test flow导致的问题。

因为ate测试和evb上的测试其实是不同的。evb上面的测试是功能测试,整颗芯片需要boot起来,所有的模块都会工作起来,而且所有的电源基本同时处于vmax, vmin或者vtyp的状态。

而ate测试,基本是模块化的,比如在测试adc的时候,otp部分的电源可以不上电,测试数字部分的scan时,adc部分可以不上电等等。即使所有的电源都上电了,但是也可以某些模块的电源处于vmax,某些处于vtyp。所以当我们review整个test flow,并观察所有的电源pin的上电情况时,很有可能是每个测试项都不同的。

测试不稳定这种事,真的是很难一言以蔽之,只能具体问题具体分析。在此只是给大家提供了一些思路,有很多我没接触过的情况,没想到的问题,希望大家不吝赐教。

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