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7050-4晶振翻盖探针老化座测试座烧录夹具治具socket焊接式详细信息/detailed information

7050-4晶振翻盖探针老化座测试座烧录夹具治具socket焊接式

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7050-4晶振翻盖探针老化座测试座烧录夹具治具socket焊接式

7050-4晶振老化座特性
①结构：翻盖式；
②外壳材质：pei；
③接触方式及材质：单头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：pei；
⑤额定电流：1a；
⑥操作压力：30g、pin越多压力越大；
⑦接触电阻：＜100mω；
⑧环境温度：-40℃~135℃；
⑨机械寿命：100000；

订购热线：13631538587

7050老化座测试座（夹具）特点：
①7050老化座采用翻盖式结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定。
②7050老化座采用开模成型方式，单价低，交期快。

③7050老化夹具采用进口单头探针接触方式，与pcb通孔焊接，接触更加稳定。

7050封装尺寸图

7050晶振老化座

7050晶振读写座

7050晶振读写座

7050晶振老化夹具

7050晶振烧录座

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1、材料：pei
2、适用ic尺寸：1.5x1.5～12x12mm
3、最高频率：>9.3ghz
4、结构：open-top/翻盖
5、接触方式：探针
6、工作温度：-55°c～175°c
探针接触细节
产品特点：
1、采用开模socket 探针的结构，大大降低设计、加工
成本，降低了使用费用
2、根据实际测试情况，选用不同探针，可以对
ic进行有锡球、无锡球不同测试
3、交期快，最快1天交货，提高使用效率
4、进口探针配合高精度模具，socket测试更稳定，使用寿命更长

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