鸿怡电子生产定制的dfn4pin-0.85mm-6.9x1.4mm翻盖晶振老化座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用dfn封装晶振测试环境：老化、测试、烧录
dfn封装晶振老化测试座产品简介：
晶振测试电流：合计sw是10a，vin是3a
晶振测试温度：-45°~ 155°
没有其他测试要求
晶振老化座结构：翻盖式
晶振老化座材料：塑胶
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