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dfn6pin-0.65mm-2x2mm翻盖弹片老化测试座详细信息/detailed information

dfn6pin-0.65mm-2x2mm翻盖弹片老化测试座

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dfn6pin-0.65mm-2x2mm翻盖弹片老化测试座

dfn6pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：dfn
芯片引脚：6pin
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：2*2mm

订购热线：13631538587

鸿怡电子生产的dfn6pin-0.65mm-2x2mm翻盖弹片老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适配ic封装：dfn/qfn/wson，适用测试环境：芯片老化、测试、烧录

产品简介：

芯片老化测试温度范围：-55~155°c

芯片芯片电流：300ma

芯片测试频率：小于1ghz

测试座结构：翻盖式

测试座材料：塑胶

dfn6老化座图纸

ic老炼座

芯片老化测试座

dfn6pin芯片老化测试夹具

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芯片封装形式：cqfp
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：1.0mm
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芯片封装形式：qfn
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：4*3mm

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芯片封装形式：bga
芯片引脚：272pin-实际下针85pin
芯片引脚间距：1.0mm
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