鸿怡电子生产定制的bga169pin-0.8mm-11x11mm翻盖合金测试治具的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用于bga169pin封装芯片测试、老化使用
产品简介:
芯片老化测试温度:-40°~125°
芯片测试电流:1a
芯片测试频率:1ghz
测试治具结构:翻盖式
测试治具材料:合金