鸿怡电子生产定制的bga169pin-0.5mm-7x7mm芯片合金旋钮翻盖测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用bga169pin芯片测试环境：老化、测试、烧录
bga169pin芯片测试座产品简介：
芯片测试温度：-55°~ 125°，老化测试时长：1000小时
有射频测试需求：射频探针标称阻抗：50ω
绝缘电阻：1000mω
介质耐压：≥500vrms
芯片测试电流：≥500ma
支持被测ip功耗：≥4w
芯片测试频率：10g
芯片测试座结构：旋钮翻盖式
芯片测试座材料：合金
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