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定制bga256pin-0.8mm-13x13mm合金翻盖旋钮探针测试座

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定制bga256pin-0.8mm-13x13mm合金翻盖旋钮探针测试座

bga256pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：bga
芯片引脚：256pin
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：13*13mm

订购热线：13631538587

鸿怡电子生产定制的bga256pin-0.8mm-13x13mm合金翻盖旋钮探针测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用bga256pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

bga256pin芯片测试座产品简介：

芯片测试电流：2a

芯片测试频率：600mhz

芯片测试温度：-55°~ 125°，每次持续时长960小时

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试座材料：合金

ic测试座

芯片测试座

bga芯片测试socket

芯片测试夹具

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芯片封装形式：cqfp
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：18.4*18.4mm

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芯片封装形式：qfn
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：4*3mm

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芯片封装形式：bga
芯片引脚：272pin-实际下针85pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：21*21mm

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