鸿怡电子生产定制的cqfn21pin-0.6mm-7.5x7.5mm翻盖探针老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用cqfn芯片测试环境：老化、测试、烧录
cqfn21pin芯片老化座产品简介：
芯片老化测试温度：-55°~ 125°
芯片老化测试时长：满足单次1000小时（多次使用）
芯片测试电流：1a
芯片测试工号：6w
芯片测试电压：30v
老化座结构：翻盖式
老化座材料：塑胶
扫一扫