定制dfn14pin合金翻盖测试座-九游会平台

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定制dfn14pin-0.4mm-2x3mm合金翻盖测试座

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定制dfn14pin-0.4mm-2x3mm合金翻盖测试座

dfn芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：dfn
芯片引脚：14pin
芯片引脚间距：0.4mm
芯片尺寸：2×3mm

订购热线：13631538587

鸿怡电子生产定制的dfn14pin-0.4mm-2x3mm合金翻盖测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于dfn14pin饭封装芯片测试、烧录、老化用

产品简介：

芯片测试温度：125°

芯片测试电流：1a

芯片测试频率：500ma

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试座材料：合金

ic测试座

芯片测试座

dfn测试座

dfn芯片测试socket

dfn芯片测试座

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芯片封装形式：cqfp
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：1.0mm
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芯片封装形式：qfn
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.4mm
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芯片封装形式：bga
芯片引脚：272pin-实际下针85pin
芯片引脚间距：1.0mm
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