定制dfn4pin电容老化测试座-九游会平台

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定制dfn4pin-1.05mm-0.65×0.45mm电容老化测试座详细信息/detailed information

定制dfn4pin-1.05mm-0.65×0.45mm电容老化测试座

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定制dfn4pin-1.05mm-0.65×0.45mm电容老化测试座

dfn封装电容老化测试座规格参数：
封装类型：dfn
引脚：4pin
引脚间距：1.05mm
适用尺寸：0.65×0.45mm

订购热线：13631538587

鸿怡电子生产定制的定制dfn4pin-1.05mm-0.65×0.45mm电容老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

产品简介：

dfn封装电容老化测试座（burn-in-socket）

老化测试温度： 85°

需要过瞬时大电流：3000ma，瞬时持续时间：0.005ms

无频率测试要求

测试座结构：翻盖式

测试座材料：合金

ic测试座

dfn测试夹具

dfn测试座

dfn电容测试座

鸿怡电子 ic测试座芯片测试座 ic测试夹具治具 dfn芯片测试座 wson芯片烧录座 qfn芯片编程座

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芯片引脚：24pin
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芯片封装形式：bga
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