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定制lcc24pin-1.27mm-10x10mm合金翻盖探针测试座

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定制lcc24pin-1.27mm-10x10mm合金翻盖探针测试座

lcc24pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：lcc
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：10*10mm

订购热线：13631538587

鸿怡电子生产定制的lcc24pin-1.27mm-10x10mm合金翻盖探针测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用lcc24pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

lcc24pin芯片测试座产品简介：

芯片测试频率：1ghz

芯片测试电流：300ma

芯片测试温度：-40°~ 150°，测试时长：8000小时

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试座材料：合金

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芯片测试座

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芯片封装形式：cqfp
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：1.0mm
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芯片封装形式：qfn
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.4mm
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芯片封装形式：bga
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