定制lga124pin合金旋钮探针老化座-九游会平台

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定制lga124pin-0.5mm-（8.2x10.5mm)合金旋钮探针老化座

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定制lga124pin-0.5mm-（8.2x10.5mm)合金旋钮探针老化座

lga124pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：lga
芯片引脚：124pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片尺寸：8.2*10.5mm

订购热线：13631538587

鸿怡电子生产定制的lga124pin芯片老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于芯片hast/htol老化测试

lga124pin芯片老化测试条件要求：

芯片老化测试温度：125°，持续老化时长：1000小时

芯片测试电流：1a

芯片老化测试湿度：85%

测试座结构：旋钮翻盖式

测试座材料：合金

ic老化座

芯片老化座

lga芯片老化测试座

lga老炼座

lga老化测试夹具

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芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.4mm
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芯片封装形式：bga
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