lga24pin合金翻盖探针老化座-九游会平台

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定制lga24pin-0.7mm-5.5x6.5mm合金翻盖探针老化座

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定制lga24pin-0.7mm-5.5x6.5mm合金翻盖探针老化座

lga芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：lga
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.7mm
芯片尺寸：5.5*6.5mm

订购热线：13631538587

鸿怡电子生产定制的lga24pin-0.7mm-5.5x6.5mm合金翻盖探针老化座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于lga芯片hast/htol老化环境测试

产品简介：

hast老化测试环境：150°，80%rh，78h，需要做温循

芯片测试电流：100ma

芯片测试频率：1ghz

测试座结构：翻盖式

测试座材料：合金

ic老化座

芯片老化座

芯片老化测试夹具

lga芯片老化测试座

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芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：1.0mm
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芯片封装形式：qfn
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.4mm
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芯片封装形式：bga
芯片引脚：272pin-实际下针85pin
芯片引脚间距：1.0mm
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