鸿怡电子生产定制的lga45pin-0.8mm-7.8x8.5mm旋钮合金翻盖测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
lga芯片测试座、lga芯片老化座、lga芯片烧录座
lga45pin芯片测试条件要求：
芯片测试速率：5.25gbps
芯片测试频率：2.6ghz
测试电流：1a
测试温度：常温
测试座结构：旋钮翻盖式
测试座材料：合金
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