定制qfn128pin-九游会平台

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定制qfn128pin-0.4mm-14x14mm合金翻盖探针测试座

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定制qfn128pin-0.4mm-14x14mm合金翻盖探针测试座

qfn128pin芯片探针测试座规格参数：
芯片封装类型：qfn
芯片引脚：128pin
芯片引脚间距：0.4mm
芯片尺寸：14×14mm

订购热线：13631538587

鸿怡电子生产定制的qfn128pin-0.4mm-14x14mm合金翻盖探针测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

qfn芯片测试座、qfn芯片老化座、qfn芯片烧录座

qfn128pin芯片测试条件要求：

芯片测试电流：单pin电流：1a

测试芯片信号：1ghz

芯片测试温度：常温

测试座结构：翻盖式

测试座材料：合金

ic测试座

芯片测试座

qfn芯片测试座

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qfn128pin探针测试座

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芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：1.0mm
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芯片封装形式：qfn
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.4mm
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芯片封装形式：bga
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芯片引脚间距：1.0mm
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