定制qfn21pin-九游会平台

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定制qfn21pin-0.4mm-3.8x3.4mm合金翻盖测试座

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定制qfn21pin-0.4mm-3.8x3.4mm合金翻盖测试座

qfn21pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：qfn
芯片引脚：21pin
芯片引脚间距：0.4mm
芯片尺寸：3.8×33.4mm
芯片厚度：0.85mm

订购热线：13631538587

鸿怡电子生产定制的qfn21pin-0.4mm-3.8x3.4mm合金翻盖测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

qfn芯片老化座、qfn芯片烧录座、qfn芯片测试座

qfn21pin芯片测试条件要求：

芯片测试电流：1a

芯片测试温度：常温

芯片测试频率：500mhz

测试座结构：翻盖式

测试座材料：合金

ic测试座

qfn芯片测试座

qfn芯片测试socket

qfn测试座

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芯片封装形式：cqfp
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：18.4*18.4mm

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芯片封装形式：qfn
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：4*3mm

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芯片封装形式：bga
芯片引脚：272pin-实际下针85pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：21*21mm

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