鸿怡电子生产定制的qfn32pin-0.89mm-8.84x8.84mm合金翻盖探针老化座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用芯片测试环境：老化、测试、烧录
产品简介：
芯片老化测试温度：-40°~155°
芯片测试电压：6v
芯片测试电流：200ma
芯片测试频率：70ghz
qfn老化座结构：翻盖式
老化座材料：合金
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