鸿怡电子生产定制的qfn40pin-0.4mm-4x6x0.85mm塑胶翻盖测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用qfn40pin芯片测试环境:老化、测试、烧录,可用于芯片hast高温高湿测试
产品简介:
芯片测试温度:-40°~ 125°
芯片测试电流:1a以内
芯片测试评率:16mhz
芯片测试频率:1.5ghz
测试座结构:翻盖式
测试座材料:塑胶