深圳鸿怡电子生产定制的qfn62pin-0.4mm-0.425mm-0.45mm-12x12x0.75mm合金翻盖探针老化座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
qfn芯片测试座、qfn芯片老化座、qfn芯片烧录座
qfn62pin芯片老化测试条件要求:
芯片测试频率:200mhz
芯片测试电流:1a
芯片老化测试温度:130°,持续时长:500小时
芯片老化座结构:翻盖式
芯片老化座材料:合金