定制qfn88pin探针老化测试座-九游会平台

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定制qfn88pin-0.4mm(10x10mm)翻盖合金探针老化测试座

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定制qfn88pin-0.4mm(10x10mm)翻盖合金探针老化测试座

qfn88pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：qfn
芯片引脚：88pin
芯片引脚间距：0.4mm
芯片尺寸：10×10mm

订购热线：13631538587

鸿怡电子生产定制的qfn88pin-0.4mm(10x10mm)翻盖合金探针测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于qfn88pin芯片测试、老化、烧录用

产品介绍：

芯片测试频率：150mhz

芯片老化测试温度：-40°~ 125°，老化持续时长：1000小时

测试座结构：翻盖式

测试座材料：合金

ic测试座

芯片测试座

qfn芯片测试座

qfn芯片测试socket

qfn测试座

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芯片引脚间距：1.0mm
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芯片封装形式：qfn
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.4mm
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芯片封装形式：bga
芯片引脚：272pin-实际下针85pin
芯片引脚间距：1.0mm
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