定制sop24pin合金旋钮探针老化测试座-九游会平台
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定制sop24pin-1.52pin-(21x11.7mm)合金旋钮探针老化测试座详细信息/detailed information

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定制sop24pin-1.52pin-(21x11.7mm)合金旋钮探针老化测试座

sop芯片老化座规格参数:
芯片封装类型:sop
芯片引脚:24pin
芯片引脚间距:1.52mm
芯片尺寸:21×11.7mm
订购热线:13631538587

鸿怡电子生产定制的sop24pin-1.52pin-(21x11.7mm)合金旋钮探针老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于sop24pin封装芯片测试、烧录、老化用

产品简介:

芯片测试温度:130°,持续时长:120小时

芯片测试电流:0.55a

芯片测试频率:1ghz

芯片测试座结构:双扣式(手自一体)

芯片测试座材料:合金

ic测试座

芯片测试座

sop芯片测试座

sop芯片测试夹具

采购:定制sop24pin-1.52pin-(21x11.7mm)合金旋钮探针老化测试座

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芯片封装形式:qfn
芯片引脚:24pin
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芯片引脚间距:1.0mm
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