鸿怡电子生产定制的sop24pin-1.52pin-(21x11.7mm)合金旋钮探针老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用于sop24pin封装芯片测试、烧录、老化用
产品简介:
芯片测试温度:130°,持续时长:120小时
芯片测试电流:0.55a
芯片测试频率:1ghz
芯片测试座结构:双扣式(手自一体)
芯片测试座材料:合金