鸿怡电子生产定制的qfn24pin-0.6mm-5x6mm塑胶翻盖芯片探针老化座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用于qfn24pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片hast/htol测试
qfn24pin芯片老化测试夹具产品简介：
hast测试： 130°，湿度85%
htol测试：温循：-55°~125°
芯片测试电流：500ma
单次满足1000小时
芯片老化座结构：翻盖式
芯片测试座材料：塑胶
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